Thick8000金屬表面電鍍層測厚儀: Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
Thick8000金屬表面電鍍層測厚儀鍍層測厚儀
1、儀器概述
Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、Thick8000金屬表面電鍍層測厚儀性能優(yōu)勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關(guān)蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達0.1%
穩(wěn)定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃
4、測試實例
在保證計數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素,大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。
11次測量結(jié)果(Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對比如下:
次數(shù) | Thick8000 | 行業(yè)內(nèi)其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 1.70% | 4.03% |
極差 | 0.0024 | 0.0055 |
部分產(chǎn)品
江蘇天瑞儀器股份有限公司產(chǎn)品包括X光電鍍層測厚儀,XRF玩具涂料檢測儀,X熒光光譜儀X-RAY,EDX1800B儀器,ROHS環(huán)保分析儀, ROHS儀器,X射線熒光測厚儀,X射線鍍層測厚儀,X-RAY膜厚測試儀,鍍金鍍銀測厚儀,手持式光譜儀,手持式金屬分析儀,手持不銹鋼測試儀,ROHS分析儀,手持式合金元素分析儀,手持式不銹鋼材質(zhì)檢測儀,X射線熒光光譜儀,ROHS測試儀,便攜式X射線熒光光譜儀,手持式合金分析儀,ROHS檢測儀,國產(chǎn)氣相色譜質(zhì)譜儀,食品、水質(zhì)、土壤重金屬分析儀等,x-ray光譜儀,X射線熒光鍍層測厚儀。